Instrumenty do pomiaru tłumienia i reflektancji (IL, ORL)

Testowanie komponentów optycznych obejmuje pełną kontrolę jakości złączy, włókien i podzespołów – od pomiaru tłumienności wtrąceniowej (IL) i reflektancji (RL), przez inspekcję geometrii czół włókien interferometrami, po reflektometrię wysokiej rozdzielczości (OBR). Interlab dostarcza rozwiązania DataPixel, OptoTest, Santec i Luna do laboratoriów i produkcji.

Kategorie produktów

Mierniki i Spawarki

100

Pomiary i certyfikacja LAN

Reflektometr optyczny

Spawarka światłowodowa

Kamery inspekcyjne

Źródła światła

Mierniki mocy

Akcesoria czyszczące

Identyfikatory transmisji

Pomiar kabli miedzianych

Lokalizatory wizualne

Analizatory widma (OSA)

Ethernet/SyncE/PTP/E1/Data

Symulatory Ethernet

Przechwytywanie ruchu

Analizatory GPON / XGS-PON

Synchronizacja i zegary sieciowe

Fotonika i R&D

224

Platformy pomiarowe/testowe

Platformy pomiarowe

Platformy testowe

OptoTest (Santec)

Mierniki MPO

Testowanie komponentów optycznych

Interferometry

Reflektometry (OBR, POF …)

Optical Component Test

Mikroskopy inspekcyjne

Stoły optyczne/Breadboardy

Stoły optyczne i antywibracyjne

Breadboardy i elementy bazowe

Spawanie i obróbka światłowodów

Inspekcja i pomiar włókien

Taperowanie

Spawarki LAB

Akcesoria do spawarek LAB

Światłowody specjalne

Włókna LeVerre Fluore

Włókna fotoniczne (PCF)

Optyka/Optomechanika

Uchwyty elementów optycznych

Stoliki przesuwne

Stoliki zmotoryzowane

Pasywne elementy optyczne

System CAGE

Analizatory

OVA

Analiza FBG

OSA

Pomiary dyspersji

Koherentna Tomografia Optyczna (OCT)

Analizatory szumów fazowych

Lasery

Lasery diodowe

ECL

Lasery impulsowe

TLS

DFB

Supercontinuum

Moduły optyczne

Optical Modules and Components

Diody laserowe i komponenty fotoniczne

Wzmacniacze półprzewodnikowe (SOA/BOA)

Diody superluminescencyjne (SLD)

Gain chips / moduły wzmacniające

Sterowniki diod laserowych (LDD/TEC)

Izolatory optyczne i akcesoria

Diody laserowe DFB/DBR

Diody laserowe Fabry-Perot (SML)

Lasery grzebieniowe (Comb)

Lasery FBG

Lasery impulsowe (SM-BTF / ps)

Lasery szerokopaskowe (Broad-Area)

Kamery i obrazowanie

Obrazowanie zaawansowane

Adaptery, obiektywy i systemy

Kamery chłodzone / low-light

Kamery mikroskopowe

Kamery przemysłowe (machine vision)

Obrazowanie inteligentne

Systemy all-in-one

Kamery autofokus

Kamery multi-interface

Wyświetlacze i terminale

Obrazowanie naukowe

Kamery sCCD

Kamery NIR-II

Kamery sCMOS

Kamery SWIR

Pasywne komponenty światłowodowe

Systemy Monitoringu

DSS – pomiar odkształceń (Brillouin, BOTDR/BOTDA)

Interrogatory FBG

Czujniki FBG

OFDR / HD-FOS – pomiar wysokiej rozdzielczości (ODiSI, OBR)

DAS – czujniki akustyczne i drgania

DTS – monitoring temperatury

Luna – Systemy Czujnikowe

Aparatura Badawczo-Naukowa

Eye-tracking

Mobilne (Okulary)

Stacjonarne (Ekranowe)

Oprogramowanie

Akcesoria

Biometria

SKT ( Temperatura skóry i otoczenia)

Jednostki główne

PPG / SpO2 (Puls i saturacja)

GSR / EDA (Przewodnictwo skóry)

EKG (Aktywność serca)

EMG (Napięcie mięśni)

RSP (Oddech)

EGG (Elektrogastrografia)

EOG (Elektrookulografia)

Dynamometria (Siła i nacisk)

Kinematyka (Ruch i goniometria)

Akcesoria do biometrii

EEG

fNIRS

inne

Filtry

Kategorie

Mierniki i Spawarki

100

Pomiary i certyfikacja LAN

Reflektometr optyczny

Spawarka światłowodowa

Kamery inspekcyjne

Źródła światła

Mierniki mocy

Akcesoria czyszczące

Identyfikatory transmisji

Pomiar kabli miedzianych

Lokalizatory wizualne

Analizatory widma (OSA)

Ethernet/SyncE/PTP/E1/Data

Symulatory Ethernet

Przechwytywanie ruchu

Analizatory GPON / XGS-PON

Synchronizacja i zegary sieciowe

Fotonika i R&D

224

Platformy pomiarowe/testowe

Platformy pomiarowe

Platformy testowe

OptoTest (Santec)

Mierniki MPO

Testowanie komponentów optycznych

Interferometry

Reflektometry (OBR, POF …)

Optical Component Test

Mikroskopy inspekcyjne

Stoły optyczne/Breadboardy

Stoły optyczne i antywibracyjne

Breadboardy i elementy bazowe

Spawanie i obróbka światłowodów

Inspekcja i pomiar włókien

Taperowanie

Spawarki LAB

Akcesoria do spawarek LAB

Światłowody specjalne

Włókna LeVerre Fluore

Włókna fotoniczne (PCF)

Optyka/Optomechanika

Uchwyty elementów optycznych

Stoliki przesuwne

Stoliki zmotoryzowane

Pasywne elementy optyczne

System CAGE

Analizatory

OVA

Analiza FBG

OSA

Pomiary dyspersji

Koherentna Tomografia Optyczna (OCT)

Analizatory szumów fazowych

Lasery

Lasery diodowe

ECL

Lasery impulsowe

TLS

DFB

Supercontinuum

Moduły optyczne

Optical Modules and Components

Diody laserowe i komponenty fotoniczne

Wzmacniacze półprzewodnikowe (SOA/BOA)

Diody superluminescencyjne (SLD)

Gain chips / moduły wzmacniające

Sterowniki diod laserowych (LDD/TEC)

Izolatory optyczne i akcesoria

Diody laserowe DFB/DBR

Diody laserowe Fabry-Perot (SML)

Lasery grzebieniowe (Comb)

Lasery FBG

Lasery impulsowe (SM-BTF / ps)

Lasery szerokopaskowe (Broad-Area)

Kamery i obrazowanie

Obrazowanie zaawansowane

Adaptery, obiektywy i systemy

Kamery chłodzone / low-light

Kamery mikroskopowe

Kamery przemysłowe (machine vision)

Obrazowanie inteligentne

Systemy all-in-one

Kamery autofokus

Kamery multi-interface

Wyświetlacze i terminale

Obrazowanie naukowe

Kamery sCCD

Kamery NIR-II

Kamery sCMOS

Kamery SWIR

Pasywne komponenty światłowodowe

Systemy Monitoringu

DSS – pomiar odkształceń (Brillouin, BOTDR/BOTDA)

Interrogatory FBG

Czujniki FBG

OFDR / HD-FOS – pomiar wysokiej rozdzielczości (ODiSI, OBR)

DAS – czujniki akustyczne i drgania

DTS – monitoring temperatury

Luna – Systemy Czujnikowe

Aparatura Badawczo-Naukowa

Eye-tracking

Mobilne (Okulary)

Stacjonarne (Ekranowe)

Oprogramowanie

Akcesoria

Biometria

SKT ( Temperatura skóry i otoczenia)

Jednostki główne

PPG / SpO2 (Puls i saturacja)

GSR / EDA (Przewodnictwo skóry)

EKG (Aktywność serca)

EMG (Napięcie mięśni)

RSP (Oddech)

EGG (Elektrogastrografia)

EOG (Elektrookulografia)

Dynamometria (Siła i nacisk)

Kinematyka (Ruch i goniometria)

Akcesoria do biometrii

EEG

fNIRS

inne

Filtry

D-Scope

Mikroskopy inspekcyjneTestowanie komponentów optycznych

DAFFI SF

Mikroskopy inspekcyjneTestowanie komponentów optycznych

GS200 generator napięcia DC

Optical Component TestTestowanie komponentów optycznych

Reflektometr wysokiej rozdzielczości Yokogawa AQ7420

Reflektometry (OBR, POF …)

AutoCheck – system do oceny czystości złącz

Fotonika i R&DMikroskopy inspekcyjne

BINNA 2

Fotonika i R&DInterferometry

COMPONENT CHARACTERIZATION

Fotonika i R&DOptical Component Test

DAFFI MT

Fotonika i R&DInterferometry

DAISI MT FP

Fotonika i R&DInterferometry

DAISI-V3

Fotonika i R&DInterferometry

DISTRIBUTED COMPONENT ANALYZERS

Fotonika i R&DOptical Component Test

EASYCHECK ENDFACE INSPECTOR

Fotonika i R&DMikroskopy inspekcyjne

INSTRUMENTS AND METERS

Fotonika i R&DOptical Component Test

Lightel AV MTP/MPO

Fotonika i R&DMikroskopy inspekcyjne

Lightel FV LARGE CORE

Fotonika i R&DMikroskopy inspekcyjne

LOR-200

Fotonika i R&DReflektometry (OBR, POF …)

Kompleksowa kontrola komponentów optycznych łączy kilka technik. Pomiar IL/RL (testery OptoTest, Santec) weryfikuje straty i odbicia złączy oraz podzespołów. Interferometry (DataPixel) sprawdzają geometrię i jakość polerowania czół ferruli wg norm IEC. Mikroskopy inspekcyjne oceniają czystość i defekty. Reflektometry OBR Luna lokalizują zdarzenia z rozdzielczością mikrometrową.

Dobór metody i urządzenia zależy od komponentu i wymagań normy – chętnie pomożemy, wraz z serwisem i wsparciem Interlab.

Najczęstsze pytania — Testowanie komponentów optycznych

Jakie parametry mierzy się przy testowaniu komponentów optycznych?

Podstawowe: tłumienność wtrąceniowa (IL), reflektancja/return loss (RL), zależność od polaryzacji (PDL), charakterystyki spektralne (pasmo, izolacja, płaskość), a dla komponentów aktywnych i światłowodów — także dyspersja czy parametry geometryczne. Zakres testów wynika ze specyfikacji wyrobu i norm IEC 61300.

Jakim sprzętem bada się charakterystyki spektralne komponentów?

Klasycznie: przestrajalny laser + miernik mocy (skan po długości fali) albo szerokopasmowe źródło + analizator OSA. Do elementów o wąskich strukturach widmowych (filtry, FBG, WDM) potrzebna jest wysoka rozdzielczość i dokładność długości fali — tu sprawdzają się dedykowane analizatory komponentów.

Jak zapewnić powtarzalność pomiarów IL/RL w laboratorium?

Trzy filary: czystość i inspekcja złączy przed każdym pomiarem, poprawne referencjonowanie (te same patchcordy pomiarowe, stabilne źródło) oraz kontrola polaryzacji przy elementach czułych na PDL. Warto też okresowo mierzyć „złoty wzorzec” — dryft wyniku natychmiast ujawnia problem stanowiska.